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4511M美国SD公司的颗粒碰撞仪4511M

简要描述:

4511M美国SD公司的颗粒碰撞仪4511M
SD公司成立于1961年,是世界著名的专业振动控制及测试分析系统生产商。该公司的产品用户遍及世界各地的航天、航空、兵器,航海,汽车等行业。中国大陆已有许多家SD公司振动测试控制系统、STAR系列软件用户。特别值得一提的是,前年下半年,S
已向成都的中国核动力研究院交付一套振动测试控制系统,价值近百万美元。

更新时间:2020-06-10

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4511M美国SD公司的颗粒碰撞仪4511M

4511M美国SD公司的颗粒碰撞仪4511M产品简介

PIND检测技术原理

颗粒碰撞噪声检测Particle Impact Noise DetectionPIND)试验是一种多余物检验的有效手段.其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动,通过冲击使被束缚在产品中的颗粒(即多余物)松动,再通过一定频率的振动,使多余物在系统内产生位移。活动多余物在产品中发生位移的过程,是多余物相对产品壳体的滑动过程和撞击过程的一个随机组合过程。

在这个过程中,将产生应力弹性波和声波。两种波在产品壳体中传播,并形成混响信号,这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后,经前置放大器放大后,位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质,以此得出检测结论。

选型说明

每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括 :控制器,振动台,传感器, 灵敏度测试单元,软件, 示波器, 电缆, 耗材, 及相关文件.其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定,我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量,全频率范围内为400,换能器台面直径为22mm~150mm,换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度高,故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件大扁平面面积.

设备用途

用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验. 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。

适用范围

用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒.

PIND技术参数

振动规格:

频率范围:25 250Hz, 正弦曲线

其他振动模式:随机极限,75 400Hz平坦频率

自动阶型频率,40250Hz

低频率程序:振幅保护随频率变化

频率分辨率:1Hz

时间 :每个程序0.125.5

时间程序分辨率:0.1

振幅:0.125.50’G’峰值,4位数显

振幅程序分辨率:0.1’G’

重复性:0.5’G’峰值,带反馈控制

D.U.T.载荷:350g(整个范围)

400g60Hz

冲击规格:

方法:冲击台反馈控制

自适应D.U.T.载荷冲击

振幅:1002500’G’可编程

程序分辨率:10’G’

重复性:50’G’

脉冲宽度:<100微秒在50%振幅下

典型的是150-200微秒在10%振幅下

冲击延迟:冲击脉冲下降沿时间,从25250微秒

D.U.T.载荷:振幅随负载轻微下降

能力500克在1000g振幅下

 (可能需要改变程序值来加大载荷)

载荷规格:

振动台极限:800

振动极限:400W/传感器

冲击极限:500克(可能需要增加程序值) 

电气规格:

电源:100,120,220,240VAC+/-10% at 50 or 60 Hz可选

功耗:300

额定功率放大:动态加载100w RMS

4511M美国SD公司的颗粒碰撞仪4511M

 

 

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