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弗莱贝格X-rayDiffractometer 使用X射线衍射仪XRD进行晶圆棒，晶圆片及晶锭的生产质量控制 晶棒定向|晶圆片分析|石英片分选 定向： AT|SC|IT|TF|X|Y|Z

弗莱贝格PIDcheck测试仪 便携式现场PID（电位诱导降解）测试仪，适用于不同型号和尺寸的c-Si模块，无需拆卸，在8小时内测试（测量时间将小于8小时）。PIDcheck是与德国FraunhoferCSPHalle公司合作开发的。

弗莱贝格MDPpro晶锭寿命测量装置 单晶、多晶晶圆和晶锭寿命测量装置 用于常规质量控制和复杂的材料研发 硅|化合物半导体|氧化物|宽带隙材料|钙钛矿|外延层 [CdTe|InP|ZnS|SiC|GaAs|GaN|Ge]

弗莱贝格MDPmap单晶和多晶片寿命测试设备 用于先进的各种复杂材料的研究 [CdTe|InP|ZnS|SiC|GaAs|GaN|Ge] 硅|化合物半导体|氧化物|宽带隙材料|钙钛矿|外延

弗莱贝格MDPinlineingot在线硅锭成像设备 对高通量要求的PV工厂中多晶和类单晶锭进行电学参数测试表征，在1mm分辨率下的总测量时间少于一分钟。

freiberg弗莱贝格MDpicts微瞬态谱仪微波探测光诱导电流瞬态谱仪对于半导体材料少子寿命，电学参数和界面陷阱等进行非接触和非破坏性测试